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轉(zhuǎn)塔式、?平移式和重力式測(cè)試分選機(jī)的區(qū)別

2024-03-04 14:03

在半導(dǎo)體制造和測(cè)試領(lǐng)域，測(cè)試分選機(jī)是不可或缺的設(shè)備，它們負(fù)責(zé)將生產(chǎn)出的芯片進(jìn)行篩選和測(cè)試，以確保其質(zhì)量和性能。轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī)、?平移式測(cè)試分選機(jī)和重力式測(cè)試分選機(jī)是三種常見(jiàn)的測(cè)試分選機(jī)類(lèi)型，它們各自有著獨(dú)特的工作原理和適用場(chǎng)景。
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轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī)則采用旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)塔的方式將芯片逐個(gè)傳輸?shù)綔y(cè)試工位進(jìn)行測(cè)試。它通過(guò)高速旋轉(zhuǎn)的轉(zhuǎn)塔和精確的測(cè)試裝置，能夠快速地對(duì)大量芯片進(jìn)行測(cè)試和篩選。轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī)適合處理體積小、重量輕、測(cè)試時(shí)間短的芯片，其測(cè)試速度通常較高。此外，轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī)還可以結(jié)合其他功能，如視覺(jué)檢測(cè)、激光打標(biāo)等，以滿足更復(fù)雜的測(cè)試需求。?

平移式測(cè)試分選機(jī)以其高精度的定位和傳輸能力而著稱(chēng)。它使用機(jī)械臂或傳送帶將芯片從一個(gè)位置移動(dòng)到另一個(gè)位置，以完成測(cè)試過(guò)程。這種測(cè)試分選機(jī)適合處理體積較大、重量較重的芯片，因?yàn)樗梢酝ㄟ^(guò)精確的機(jī)械控制來(lái)確保芯片在測(cè)試過(guò)程中的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。平移式測(cè)試分選機(jī)通常用于對(duì)芯片進(jìn)行詳細(xì)的性能測(cè)試和功能驗(yàn)證，以確保其滿足特定的規(guī)格和要求。

重力式測(cè)試分選機(jī)則依賴(lài)于芯片自身的重力和外部作用力來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程。它利用重力將芯片沿著特定的軌道或斜面滑動(dòng)，通過(guò)一系列的測(cè)試裝置來(lái)檢查芯片的質(zhì)量和性能。重力式測(cè)試分選機(jī)通常適用于處理較小、較輕的芯片，并且其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、投資成本低。然而，由于重力式測(cè)試分選機(jī)主要依賴(lài)于重力作用，因此其測(cè)試精度和速度相對(duì)較低，可能不適用于對(duì)測(cè)試精度要求較高的場(chǎng)景。
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同時(shí)，這三類(lèi)分選機(jī)的測(cè)試速度、適用芯片大小、適用封裝類(lèi)型等性能也各有不同。深科達(dá)在測(cè)試分選領(lǐng)域享有盛譽(yù)，?深科達(dá)的轉(zhuǎn)塔式測(cè)試分選機(jī)、?平移式測(cè)試分選機(jī)和重力式測(cè)試分選機(jī)，滿足各種客戶(hù)群體的需求，其卓越的質(zhì)量、強(qiáng)大的研發(fā)實(shí)力以及貼心的服務(wù)??，得到客戶(hù)們的一致好評(píng)。